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原子力显微镜 使用-小白三步法[博越仪器]

作者:博越仪器 发布时间:2022-03-26 13:33:47 浏览人数:2064

原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。那原子力显微镜 使用是怎样的呢?下面我们来一起了解下。

 

原子力显微镜 使用


打开计算机主机、显示器;打开Nanoscope控制器;打开Dimension Stage控制器。选择合适的探针和夹;安装探针;安装探针夹到原子力显微镜上。将激光打在悬臂前端;调整检测器位置;接着启动软件,在原子力显微镜视野中预先找到探针位置非常重要。若不如此做,可能会发生撞针的情况。


原子力显微镜 使用-客户案例


然后就是进样,样品制备和聚焦样品。再扫描图像,有ScanAsyst智能模式和Tapping 模式及Contact 模式,选择模式后点击 Engage进针,进针结束开始扫图。将Scan size设置成要扫描的范围。zui后对原子力显微镜的扫描图像存图,通过可以设置文件名及存图路径。点击退针关机即可。


原子力显微镜 使用


以上原子力显微镜 使用产品博越均有,具体采购哪一种需要结合企业被检测材料,可以来电咨询博越20年实战工程师evo电子扫描显微镜价格,为您定制专业1v1方案。


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